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导电性原子力显微镜(AFM)
原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM),具有原子级解析力,是微观表面结构的重要分析工具。主要原理是藉由针尖与试片间的原子作用力,使悬臂梁产生微细位移,以测得样品表面形貌起伏,可应用于多种材料表面检测。
iST宜特AFM分析优势
两岸*有可分析12吋wafer的AFM实验室,保存您完整wafer以便后续进行其他实验。
外加其他功能显微镜,分析应用之范围更扩大。如CAFM导电式原子力显微镜(Conductive Atomic Force Microscopy, CAFM)和SCM扫描式电容显微镜(Scanning Capacitance Microscopy,SCM)。
AFM服务项目:
薄膜粗糙度检测
微观表面结构研究
2D/3D材料表面形貌
奈米级纵深分析
关于宜特:
iST始创于1994年的中国台湾,主要以提供集成电路行业可靠性验证、材料分析、失效分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海,全球现已有7座实验室12个服务据点,目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。
**咨询电话:8009880501
导电性原子力显微镜(AFM)