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宜特检测透射电子显微镜(TEM)

文章来源:宜特检测 上传时间:2017-11-23 浏览次数:
文章摘要:TEM透射电子显微镜,电子显微镜,TEM显微镜分析,宜特检测透射电子显微镜(TEM)性能特强的材料分析、可达0.1奈米影像分辨率设备的TEM,将可针对材料之显微结构、晶体缺点、化学成分进行分析;搭配上EDS、HAADF(ZC)、应力分析等功能,更能得到原子尺度结构与成份信息,解决制程上各种难题。iST宜特TEM分析四大优势 一、**市场的分析能力:已达5奈米制程节点; 二、快速...

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透射电子显微镜(TEM)

性能特强的材料分析、可达0.1奈米影像分辨率设备的TEM,将可针对材料之显微结构、晶体缺点、化学成分进行分析;搭配上EDS、HAADF(ZC)、应力分析等功能,更能得到原子尺度结构与成份信息,解决制程上各种难题。

iST宜特TEM分析四大优势

  •  一、**市场的分析能力:已达5奈米制程节点;

  •  二、快速交期:三班制24小时运作;

  •  三、FEI、JEOL等特高阶设备,供您选择(参见下表);

  •  四、样品制备能量:八台业界特高阶FEI Helios 660 Dual-beam FIB设备,搭配解除试片损伤层(离子束能量可低至100 eV)的技术,将协助您取得特高质量TEM影像。 

TEM应用范围:

  •  显微结构分析(晶格影像)

  •  结晶缺点分析

  •  元素成分分析

  •  薄膜应力分析

  •  电子绕射图分析

  •  杂质及污染源分析

 机台型号/规格 

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关于宜特:

iST始创于1994年的中国台湾,主要以提供集成电路行业可靠性验证、失效分析、材料分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海,全球现已有7座实验室12个服务据点,目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。

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