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ESD静电测试(ESD &Latch-up)
长期以来，终端产品市场因EOS而客退情形不曾间断，对终端产品的厂商而言除了在产品耐ESD设计/产线ESD防护以及成品ESD验证外，对于产品所选用的IC其承受ESD的能力必须更加关注，因为若IC承受静电能力弱，产品就不可能有良好的静电承受能力。
过去IC ESD试验大都以试验到其所订定的ESD防护等级(例如2KV)便停止试验。近一年来，越来越多成品厂商要求其IC供货商必须提出Testing to Fail的验证与失效模式报告。经由此种过程对IC设计者来说可以了解到IC脆弱点且可作为ESD电路设计上的参考。对成品厂商而言可了解其所选用的IC所能承受的静电能力以及脆弱点以作为系统设计时参考，亦可在RMA失效分析时做为比对依据。
宜特静电测试实验室提供了人体放电模式(Human Body Mode)、机器放电模式(Machine Mode)、组件充/放电模式(Charge Device Mode)及闩锁效应(Latch-up)等测试，同时也提供ESD的I-V Curve量测以及ESD失效分析。试验则涵盖了MIL-STD(美国军规标准)和 EIA/JEDEC(日本静电防护规章)，AEC(汽车电子协会)等测试服务。
关于宜特：
iST始创于1994年的中国台湾，主要以提供集成电路行业可靠性验证、材料分析、失效分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海。全球现已有7座实验室12个服务据点。目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。
ESD静电测试(ESD &Latch-up)
